描述：XD-1000A 多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，輕松應(yīng)對超小測量點(diǎn)薄涂層和極薄涂層的測量分析，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動(dòng)測試分析中盡顯優(yōu)勢，主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細(xì)玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸，利用毛細(xì)玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向，從而實(shí)現(xiàn)X射線匯聚，同時(shí)將X射線的強(qiáng)度增加2～3個(gè)數(shù)量級。
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 50萬-100萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,汽車,電氣,綜合 |
XD-1000A特點(diǎn)
1、多導(dǎo)毛細(xì)光學(xué)系統(tǒng)和高性能SDD探測器：區(qū)別金屬準(zhǔn)直，多導(dǎo)毛細(xì)管可將光束縮小至10 μm（可選擇的多導(dǎo)毛細(xì)管，@ 35 μm、25 μm、15 μm、5 μm FWHM等），同時(shí)得到數(shù)千倍的強(qiáng)度增益。可測量超微小樣品的同時(shí)保證了測試的準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性，在測量納米級Au厚度或薄膜層厚度及成分時(shí)，滿足微小光斑、短測量時(shí)間的同時(shí)，達(dá)到測量效果。
2、微米級超小區(qū)域：在Elite-X光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)下大大降低檢出限，納米級超薄鍍層均可準(zhǔn)確、可靠測試
3、廣角相機(jī)：樣品整體形貌一覽無余，且測試位置一鍵直達(dá)
4、搭配高分辨微區(qū)相機(jī)：千倍放大精準(zhǔn)對焦測試區(qū)域，搭配XY微米級移動(dòng)平臺，三維方向?qū)咕劢箿y試點(diǎn)位，誤差<±2 μm
5、多重保護(hù)系統(tǒng)：V型激光保護(hù)，360°探入保護(hù)，保護(hù)您的樣品不受損害，保證儀器安全可靠的運(yùn)作
6、全自動(dòng)移動(dòng)平臺：可編程化的操作，針對同一類型樣品，編程測試點(diǎn)位，同一類樣品自動(dòng)尋路直接測試
7、人性化的軟件：搭配EFP核心算法軟件，人機(jī)交互，智慧操作
8、可搭配全自動(dòng)進(jìn)送樣系統(tǒng)，與您的產(chǎn)線配合
XD-1000A 應(yīng)用領(lǐng)域
